PATENT
특허
특허 현황
( 특허 제 10-1669075호 ) 결함 검사 시스템 및 방법
( 특허 제 10-2298218호 ) 부품의 각인 품질 검사 방법 및 이를 위한 장치
( 특허 제 10-2742456호 ) 부품의 핀을 검출하는 방법 및 이를 위한 장치
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