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SOLUTION

제품소개

Machine Vision

인공지능 외관 검사 비전 S/W (전기자동차 2차 전지 셀 공정)

● 주요 기술


  • Image Enhancement : 외관 검사용 이미지 합성
  • Recognition & Segmentation : 이차전지 셀 영역별 인식
  • AI Deep Learning & Inspection : 인공지능 학습, 검사
  • Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이

● 검사 항목


  • 찍힘 (Dent)
  • 긁힘 (Scratch)
  • 주름 (Wrinkle)
  • 접힘 (Fold)
  • 눌림 (Pressed)
  • 크랙 (Crack)




  • 오염 (Pollution)
  • 기포 (Bubble)
  • 치수 (Measure)
  • 이물 (Foreign Material)
  • 기타 (Print)

테이프 치수 / 외관 검사 비전 S/W (전기자동차 2차 전지 셀 공정)

● 주요 기술

  • Optic & Grab : 테이프 치수/외관 검사용 3면 동시 촬상
  • Rule Base Image Processing : 머신 비전 영상 처리
  • Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이

● 검사 항목

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태양전지 Cell(Wafer)공정  WetBench, CVD 등 공정 투입 전/후 Crack, 외관 불량 검사

● 주요 기술


  • Optic & Grab  Color 카메라, Dome조명, OnTheFly Grab

  • 상위 원격 AI서버에 이미지 전송, AI추론 결과로 불량 배출

Align 비전 솔루션

● 주요 기술


  • 이차전지 스태킹 공정 장비 Align & Stacking 검사

  • Repeatability < 30um

  • TactTime < 80 usec

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인공지능 외관 검사 비전 S/W (크랙 검사 공정)

● 주요 기술


  • AI Deep Learning & Inspection : 인공지능 학습, 검사
  • Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이

● 비전 검사 S/W

주식회사 에스엔디에이｜ 대표자 : 신균섭

[본사] 주소 : 충남 천안시 서북구 2공단 4로 40-11

G1비즈캠퍼스 905호

[연구소] 주소 : 경기도 화성시 동탄순환대로 635

sh스퀘어1차 1406호

Tel : 031-375-5449｜Fax : 031-375-9632

E-Mail : snda@snda.co.kr


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