SOLUTION

제품소개


인공지능 외관 검사 비전 S/W (Wafer AOI검사 공정)


● 주요 기술


•AI Deep Learning & Inspection : 인공지능 학습, 검사

•Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이

● 검사 항목

● 비전 검사 S/W

Align 비전 S/W

● 주요 기술


• HBM 디바이스 테스트 설비 적용

• Repeatability < 10um

• Telecentric Lens

주식회사 에스엔디에이| 대표자 : 신균섭

[본사] 주소 : 충남 천안시 서북구 2공단 4로 40-11

G1비즈캠퍼스 905호

[연구소] 주소 : 경기도 화성시 동탄순환대로 635

sh스퀘어1차 1406호

Tel : 031-375-5449|Fax : 031-375-9632

E-Mail : snda@snda.co.kr


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[본    사]  충남 천안시 서북구 2공단4로 40-11 G1비즈캠퍼스 905호

[연구소]  경기도 화성시 동탄대로 635, sh스퀘어1차 1406호

Tel : 031-375-5449| Fax : 031-375-9632 | E-Mail : snda@snda.co.kr