SOLUTION
제품소개
인공지능 외관 검사 비전 S/W (Wafer AOI검사 공정)
● 주요 기술
•AI Deep Learning & Inspection : 인공지능 학습, 검사
•Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이
● 검사 항목
● 비전 검사 S/W
Align 비전 S/W
• HBM 디바이스 테스트 설비 적용
• Repeatability < 10um
• Telecentric Lens
주식회사 에스엔디에이｜ 대표자 : 신균섭
주소 : 경기도 화성시 동탄순환대로 823, 1305호
(영천동, 에이팩시티)
Tel : 031-5183-5449｜Fax : 031-5182-9632
E-Mail : snda@snda.co.kr
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